Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта. Часть 11. Современные тенденции в методах автоматизированного оптического контроля изделий электронной техники
Статья вышла в журнале «Электронные компоненты» №12/2025 Оформить подписку на журнал «Электронные компоненты» Часть 1 Часть 2 Часть 3 Часть 4 Часть 5 Часть 6 Часть 7 Часть 8 Часть 9 Часть 10 Введение В настоящей статье рассматриваются современные тенденции в исследованиях и результатах обнаружения дефектов изделий электронной техники оптическим способом. Описаны перспективы машинного обучения...
Читать дальше...