Нейросеть научили оценивать качество отечественной электроники
0
ТОМСК, 10 марта. /ТАСС/. Математическую модель и программное обеспечение для контроля качества отечественных материалов, элементов и блоков радиоэлектронной аппаратуры по снимкам 3D-микротомографа, разработали ученые Томского государственного университета (ТГУ).