«3DNews»
Сентябрь
2024
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30

SMEE стала на шаг ближе к созданию суверенных китайских EUV-сканеров — они нужны для выпуска передовых чипов

0
Литография со сверхжёстким ультрафиолетовым излучением (EUV) способна заметно удешевить производство 7-нм и более совершенных полупроводниковых компонентов, поэтому санкции США против Китая направлены на ограничение доступа последней из стран к таким технологиям. Как выясняется, китайские производители оборудования создают свои решения для работы с EUV. Источник изображения: ASML