ТПУ разработал микроскоп X-ray eye для исследований в наномасштабе

ТОМСК, 19 дек – РИА Томск. Ученые Томского политехнического университета (ТПУ) разработали рентгеновский микроскоп X-ray eye для проведения исследований по нанорадиографии и нанотомографии; работа проводилась в рамках создания экспериментальной станции "Микрофокус" для Сибирского кольцевого источника фотонов (СКИФ), сообщила в четверг пресс-служба вуза. Ранее сообщалось, что ТПУ разрабатывает станцию "Микрофокус" для СКИФа – источника синхротронного излучения класса 4+. Его строят под Новосибирском. Такие установки нужны для изучения атомной структуры веществ. Разрабатываемая томичами станция должна обеспечить фокусировку пучков синхротронного излучения вплоть до десятков нанометров. "Ученые Томского политехнического университета разработали рентгеновский микроскоп X-ray eye для экспериментальной станции "Микрофокус" Сибирского кольцевого источника фотонов… Дополняя оптический тракт "Микрофокуса", микроскоп позволит опуститься до фундаментального предела станции в 50 нанометров (толщина человеческого волоса – около 100 микрометров)", – сказано в сообщении. Уточняется, что рентгеновский микроскоп оснащен опцией изменения поля зрения и возможностью быстрой смены монокристаллических сцинтилляционных экранов. Это позволит проводить работу в режиме высокого пространственного разрешения или с высокой чувствительностью. X-ray eye можно также использовать как отдельное научное оборудование для исследований по нанорадиографии и нанотомографии. "Измерение параметров пучка синхротронного излучения, особенно сформированного пучка, является одной из важнейших задач на синхротронных станциях… Для измерения таких пучков в мире используют различные косвенные методы, в том числе и с использованием рентгеновских микроскопов", – цитируется проректор по науке и стратегическим проектам ТПУ Алексей Гоголев. Добавляется, что управлять микроскопом будет программное обеспечение, разработанное учеными ТПУ. Оно позволит проводить исследования в широком диапазоне разрешений – от нано до мезо, отображать большие объемы данных и проводить статистический анализ состава образцов. Скорость сканирования образцов благодаря ПО более чем в 300 раз выше, чем при работе с аналогичными программами