Ураган «Хелен» в США стал проблемой для мирового производства микросхем

Ураган «Хелен», обрушившийся в последних числах сентября на юго-восток США, оказал неожиданное негативное влияние на процесс производства полупроводников, которые используются в микроэлектронике. Об этом сообщил 4 октября научно-популярный журнал New Scientist.